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14个结果
  • 缺陷分析

    简介三维X射线扫描(CT)采用计算机断层扫描技术,在对被检测物体无损伤的条件下,以二维断层图像或三维立体图像的形式,清晰、准确、直观地展示被检测物体的内部结构、组成、材质及缺损状况。 目的确定产品内部可能存在的缺陷的类型、位置以及尺寸。 应用范围塑料、陶瓷等复合材料,以及镁、铝和钢原料制成的零件、粘结剂等。 测试步骤确认样品类型/材料→放置测量装置中→快速扫描→图像整体透视、任意面剖视→缺陷分析。 
    06-05 2018
  • 异物分析

    目的异物杂质的生成原因比较多,例如原材料不纯、反应有副产物、工艺控制不规范或工艺配方不成熟等。本项目通过分析异物,获得其所含的元素、化学成分,结合厂家对产品和工艺的了解找出异物产生的真正原因,通过厂家对配方工艺等的改进调节进而避免异物的产生。该技术是专门针对产品上的微小嵌入异物或表面污染物,析出物的分析技术,例如对表面嵌入或析出的颗粒物、小分子迁移物、斑点、油状物、雾状物、橡胶喷霜等异常物质进行定性分析,藉此找寻污染源或配方不相容者,是改善产品最常用的分析方法之一。作用1)快速判断异物或杂质的成分,分析产生原因,进行整改提升产品良率。2)通过对异常物质分析,进行配方完善。3)消除生产隐患。典型案例案件背景:某客户客诉回1pcLCM产品不良,表现为其点亮后产品出现部分区部不良。检测手段:显微红外分析、SEM+EDS分析检测标准:GB/T 6040-2002 红外光谱分析方法通则、GB/T 17359-2012 微束分析 能谱法定量分析 分析方法简介通过显微镜放大倍检查发现LCM的导光板表面存在异常条状物质,见下图。 首先在显微镜通过特殊取样工具取出LCM的导光板表面异物并进行FTIR成分分析,判定其有机主成分。  再对LCM的导光板表面异物进行SEM+EDS分析,判定其元素组成。  表1.异物EDS测试结果(Wt%)SpectrumCOTotal谱图80.19519.805100.00  结果分析:综合以上分析,可知LCM的导光板表面异物为聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA),其元素为C、O。结合产品分析该LCM产品中存在PMMA膜层,建议做红外图谱相似度比对,从而确定来源。
    06-01 2018
  • 拉伸试验

    简介拉伸试验是指在承受轴向拉伸载荷下测定材料特性的试验方法。拉伸试验可测定材料的一系列强度指标和塑性指标弹性极限、伸长率、弹性模量、比例极限、面积缩减量、拉伸强度、屈服点、屈服强度和其它拉伸性能指标。 标准GB/T 228.1、ASTM E8/E8M、ISO 6892-1、GB/T 1040、ISO 527、ASTM D638等。演示图如下:    试样图如下 试样曲线图
    06-01 2018
  • 逆向工程

    简介一种产品设计技术再现过程,即对一项目标产品进行逆向分析及研究,从而演绎并得出该产品的处理流程、组织结构、功能特性及技术规格等设计要素,以制作出功能相近,但又不完全一样的产品。目的采集待测物体点云数据并以STL文件格式快速输出其CAD数据。 应用模具制品、艺术品、汽车部件、电子元器件。步骤确认样品类型→放置测量装置中→快速扫描→点云数据再现三维模型→以STL文件格式输出数据
    06-01 2018
  • CAD数模比对

    简介实际生产的产品与理想的CAD模型可能存在一定尺寸差异从而影响产品的性能和使用,分析对比存在的差异反诸于生产工艺的改进是常用的措施目的以直观的色彩偏差快速形象地显示目标结构与其CAD数据的偏差应用注塑件、装配件、高精密元器件步骤确认样品类型→放置测量装置中→快速扫描→对比CAD模型→多彩显示模数对比偏差如图所示
    06-01 2018
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